蔡司电子显微镜纳米级颗粒度分析解决方案

 　　蔡司电子显微镜快速的纳米级、化学成份和关联颗粒度分析

　　蔡司光学显微镜图像对零配件和生产过程进行清洁度检测时，需要确保机械组件在无摩擦状态下工作。必须避免因裂纹引起的泄漏，减少喷嘴和过滤器堵塞以及防止泵和阀门发生故障。

　　降低维护成本和缩短机器设备停机时间。

　　电子显微镜图像全自动纳米级颗粒度分析软件 —— 蔡司 SmartPI

　　利用电子显微镜分析滤膜上多达 200,000 个颗粒，并可选择地了解材料的化学组份信息 – SmartPI 让这一切的全自动化运行得以实现。

　　光学显微镜和电子显微镜的叠加图像(包含 EDX 分析)蔡司关联颗粒度分析能够在光学和电子显微镜下快速测量与分析多达 200 个关键颗粒并表征它们 — 快速且高效。这套用于颗粒度 EDS 分析的 Correlative Particle Analyzer 系统符合 ISO 16232 和 VDA19 标准。

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