工业CT无损检测技术在增材制造缺陷研究中的展望

 　　工业CT成像技术在再制造典型缺陷研究中的展望

　　为了使激光熔覆增材再制造零部件的性能达到甚至超过新品的性能，满足再次服役的要求，必须对其进行缺陷检测。工业CT成像技术有望成为再制造典型缺陷分析研究中一种重要的无损检测手段，其研究发展方向主要涉及以下几个方面:

蔡司工业CT

　　(1)提高工业CT技术检测精度。基于再制造零部件内部及再制造界面的典型缺陷的特点，工业CT成像技术的迅速发展将成为再制造典型缺陷分析研究实现突破性进展的前提条件,只有工业CT成像技术拥有更小的尺寸精度、更高的分辨率、更精准的重建算法及更有效的图像处理技术，才可能实现再制造零部件内部及再制造界面缺陷的智能化检测、自动化识别与分类。

　　(2)大型再制造零部件的缺陷检测。高端大型再制造零部件的体积庞大、结构特殊、工艺复杂，常规的无损检测手段均无法准确获取产品内部的结构和缺陷信息，工业CT成像技术是大型再制造零部件不可替代的缺陷检测手段。大型再制造零部件由多种材料构成，内部结构复杂，对缺陷检测技术要求极高，如成像视野直径要大(超过2m)、缺陷识别种类多、检测精度要求高等，导致大型再制造零部件缺陷检测面临着工业CT成像系统的高分辨率与大扫描直径、探测效率、扫描速度、动态范围之间的矛盾。通过增强工业CT成像系统的射线源，完善系统的探测器设计，提高系统的扫描效率，引入合理的图像重建运算方法，可确保工业CT成像技术实现对大型再制造零部件内部缺陷的高效识别与检出。

　　(3)降低检测成本，扩大使用范围。工业CT成像装置本身造价高于其他无损检测设备,且该技术检测过程较耗时，检测效率相对较低，检测成本较高,导致其使用范围受到限制。通过在工业CT成像系统中引入新型计算模拟　　技术，提高了工业CT成像技术的检测效率,降低了检测成本，扩大了工业CT成像技术的应用领域。

　借助易于使用的ZEISS METROTOM 1的蔡司工业CT技术，只需一次扫描，任何人都能有效完成复杂的测量和检查任务。测量并检测接触式或光学测量系统无法检测到的隐藏缺陷和内部结构。另一个巧妙之处在于ZEISS METROTOM 1的尺寸。由于体积小，CT扫描系统很容易便能放置于您的测量实验室之中，可以一次性完成内部测量和检查。

　　一个CT系统，兼具多种优势

　　ZEISS METROTOM 1使用工业计算机断层扫描技术，是升级您的质量检查产品组合的理想设备。