卡尔蔡司 O-INSPECT纳米测量技术和光学测量技术

无论是几毫米大小的插头，手机外壳，还是植入工件,O-INSPECT是的全能型仪器，轻松承担各种测量任务。

佳组合

O-INSPECT综合了佳的测量技术与光学技术，除了接触式测量系统之外，本测量机还具有光学传感器。O-INSPECT是在塑胶工业，医疗和汽车技术及密机械应用中的佳方案，特别是在快速，大批量和高度测量的零部件时。

重要特征
O-INSPECT使用了经过实际验证的结构原理——桥式测量机带有固定龙门架和移动式工作台，具有测量的高度性以及化性。同时具有多传感器技术的级标准配置。VAST集接触扫描和光学测量于一体。

机器技术
具有非常可靠的驱动技术，所有轴上使用密滚珠轴承。高动态的驱动与自动驱动控制，并且有导轨误差补偿技术（CAA计算机辅助度纠正）。O-INSPECT有着隐藏式的导轨和集成的减震系统，非常适合现场测量。O-INSPECT使用的组件都是经过测试验证的，包括了蔡司VAST XXT接触式探头，为光学测量设计的变焦镜头以及蔡司的密机械组件。

可配置的传感器
VAST XXT
ViScan

测量范围 (in mm)
400 x 400 x 200

更多机型详情敬请关注蔡司三坐标授权代理--昆山友硕 www.cmm-yosoar.com

我们在您身边，我们提供的不只是尖产品！咨询热线：0512-57566117