蔡司双束扫描电镜对锂电池材料进行纳米级三维成像

 　　低碳转型推动锂电技术发展，但材料表征仍面临挑战：如何精准量化电极的活性锂损失?如何三维解析多相颗粒与传质路径?本文将展示蔡司扫描电镜如何通过‘电镜样品制备表征→多维度/多模态成像’技术链，结合AI分析，突破传统表征局限。

　　利用SEM扫描电镜/FIB扫描电镜表征电池材料表面/内部的形貌后，如何快速统计分析结果?

　　蔡司ZEN软件平台可智能分割图像，自动统计颗粒尺寸、缺陷及孔径分布，为锂电研发提供高精度自动化解决方案，助力突破材料及工艺研发瓶颈!

　　锂电池结构精细易损伤，如何精准揭示材料体相及内部界面结构?

　　蔡司双束电镜(FIB-SEM)可对锂电池材料进行纳米级三维成像，精准解析结构-性能关系，加速研发进程。利用其大束流技术可快速制备大面积高质量截面样品，结合Atlas软件的自动追踪和Gemini电子光学技术的高分辨成像，实现无人值守的高效连续切片数据采集。

　　三维重构数据量太大，如何快速提取关键信息?

　　蔡司扫描电镜提供基于AI深度学习的图像结合FIB-SEM三维重构技术，实现锂电材料的智能分析加速。

　　通过AI深度学习的图像分割算法，可精准区分复杂结构，自动识别电极颗粒、孔隙、裂纹等组分并计算占比，极大提升图像分析效率;一键量化颗粒表面积、球形度、体积，等效直径、长径比等统计参数。

　　除了常规的参数统计，还可以基于球棍模型表征的孔隙网络结构，获得电极、隔膜、固态电解质等材料的孔隙结构的形态学参数(如孔隙连通性分析，迂曲度等)。

　　三维成分信息难获取?锂元素表征难上加难?

　　蔡司FIB-TOF-SIMS联用技术给出完美答案!凭借蔡司多模态成像技术，双束电镜能够在定点切割电池新鲜截面后，利用原位TOF-SIMS采集正负离子模式的数据，避免空气对样品的影响，精准分析SEI、锂金属等敏感材料，确保结果真实可靠。

　　其FIB-SIMS技术具有高荷质比灵敏度和高深度精度，FIB的低电压小束流技术结合3D深度剖析模式，可精准量化锂等轻元素的三维分布。

　　当FIB的纳米级“雕刻刀”遇见SIMS的原子级“成分显微镜”，锂电池研究迎来三维时代!AI的深度介入，不仅破解了海量数据的解析困局，更让SEI膜演化、锂脱嵌与沉积机制等‘黑箱’过程变得可预测、可量化。

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