慕尼黑上海光博会

 展会简介：
 慕尼黑上海光博会
 主办单位:
 德国慕尼黑国际博览集团
 慕尼黑展览（上海）有限公司

 时间：2014年3月18日 － 20日
 地址：上海新国际博览CenE1、E2、E3号馆（上海市浦东新区龙阳路2345号） 
 展出产品：O-inspect 332, METROTOM
 展位号：E1-1202

 O-INSPECT
 测量技术与光学技术的佳组合
       O-INSPECT 多功能复合式扫描测量Cen融合了德国卡尔-蔡司佳的光学及测量技术。卡尔-蔡司167年的光学技术及工业测量专家级经验造就了O-INSPECT独到的产品特色，配备高度接触式三维连续扫描测头系统及级光学传感器系统，集投影仪、显微镜、轮廓仪及三坐标测量机的势及功能于一体，更有缩短测量链及降低各类误差，配合蔡司扫描控制系统及PTB认证的CALYPSO测量平台，佳的测量度及长期可靠性为大批量与高度测量要求提供了佳解决方案，为测量各类中小型零部件的理想之选。

 METROTOM
 级的无损检测与工业CT测量技术

    德国蔡司 METROTOM CT 扫描测量系统融合了几何量计量及断层扫描成像技术，通过数字图像重构实现三维确可视化。METROTOM作为佳的无损检测与测量方案，弹指间，呈现内部细节，轻松洞悉内部缺陷及孔隙率，快速查看部件内部装配及间隙状态，可大幅缩短产品开发周期及质量分析时间，提供形象直观的色彩偏差分析及多样化检测报告。不同于传统破坏性测量技术，METROTOM 让业界享受高率测量所带来的无限可能性，让一切可见可测。适用于几何量三维尺寸测量、数模对比、缺陷分析、装配检测及逆向工程等应用域，广泛应用于塑料、汽车、医疗及科研等行业对于工业CT的多元化应用要求。